Laser-enhanced ionization spectrometry and its principles : a powerful tool for ultra-sensitive trace element analysis

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Detalhes bibliográficos
OCLC:35469085
Autor principal: Axner, Ove
Autor Corporativo: Chalmers tekniska högskola. Dept. of Physics
Idioma:English
Publicado em: Göteborg, Sweden : Dept. of Physics, Chalmers University of Technology, 1987.
Colecção:Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola ; ny ser., nr. 607.
Formato:

Thesis Monograph

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