Laser-enhanced ionization spectrometry and its principles : a powerful tool for ultra-sensitive trace element analysis

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
OCLC:35469085
المؤلف الرئيسي: Axner, Ove
مؤلف مشترك: Chalmers tekniska högskola. Dept. of Physics
اللغة:English
منشور في: Göteborg, Sweden : Dept. of Physics, Chalmers University of Technology, 1987.
سلاسل:Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola ; ny ser., nr. 607.
التنسيق:

أطروحة Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

الوصف Local Call Number الحالة
P-00212887 متاح