Multimode scanning probe microscopy in characterizing precision optical thin films and multilayers /

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
OCLC:56413564
Yhteisötekijä: Bhabha Atomic Research Centre
Muut tekijät: Sahoo, N. K.
Kieli:English
Julkaistu: Mumbai : Bhabha Atomic Research Centre, 2001.
Sarja:BARC external ; BARC/2001/E/032.
Aiheet:
Aineistotyyppi:

Hallinnon asiakirja Monograph Microform

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.