Multimode scanning probe microscopy in characterizing precision optical thin films and multilayers /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
OCLC:56413564
Korporativní autor: Bhabha Atomic Research Centre
Další autoři: Sahoo, N. K.
Jazyk:English
Vydáno: Mumbai : Bhabha Atomic Research Centre, 2001.
Edice:BARC external ; BARC/2001/E/032.
Témata:
Médium:

Vládní dokument Monograph Microform

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Popis
Popis jednotky:At head of title: Government of India, Atomic Energy Commission.
Fyzický popis:45 p. : ill. ; 29 cm.
Bibliografie:Includes bibliographical references (p. 45)