Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen /

Sparad:
Bibliografiska uppgifter
OCLC:27035513
Huvudupphovsman: Jacomet, Marcel
Institutionell upphovsman: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Språk:German
Publicerad: Konstanz : Hartung-Gorre, 1991.
Upplaga:1. Aufl.
Serie:Series in microelectronics, v. 8.
Ämnen:
Digital integrated circuits > Design and construction > Data processing.
Metal oxide semiconductors > Testing > Data processing.
Integrated circuits > Fault tolerance.
Materialtyp:

Lärdomsprov Monograph

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