Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
OCLC:27035513
1. autor: Jacomet, Marcel
Korporacja: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Język:German
Wydane: Konstanz : Hartung-Gorre, 1991.
Wydanie:1. Aufl.
Seria:Series in microelectronics, v. 8.
Hasła przedmiotowe:
Digital integrated circuits > Design and construction > Data processing.
Metal oxide semiconductors > Testing > Data processing.
Integrated circuits > Fault tolerance.
Format:

Praca dyplomowa Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

Opis Local Call Number Status
P-00425252 Dostępne

Podobne zapisy