Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS Schaltungen /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
OCLC:27035513
Egile nagusia: Jacomet, Marcel
Erakunde egilea: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Hizkuntza:German
Argitaratua: Konstanz : Hartung-Gorre, 1991.
Edizioa:1. Aufl.
Saila:Series in microelectronics, v. 8.
Gaiak:
Digital integrated circuits > Design and construction > Data processing.
Metal oxide semiconductors > Testing > Data processing.
Integrated circuits > Fault tolerance.
Formatua:

Thesis Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

Deskribapena Local Call Number Egoera
P-00425252 Eskuragarri

Antzeko izenburuak