Laser-enhanced ionization spectrometry and its principles : a powerful tool for ultra-sensitive trace element analysis

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
OCLC:35469085
Tác giả chính: Axner, Ove
Tác giả của công ty: Chalmers tekniska högskola. Dept. of Physics
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Göteborg, Sweden : Dept. of Physics, Chalmers University of Technology, 1987.
Loạt:Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola ; ny ser., nr. 607.
Định dạng:

Luận văn Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

Miêu tả Local Call Number Trạng thái
P-00212887 Sẵn có