Precision measurement of wavelengths and natural line widths of 3d-2p pionic x-ray transistion in low-Z atoms /

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Detalhes bibliográficos
OCLC:46169068
Autor principal: Chambrier, Gilbert de
Autor Corporativo: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Idioma:English
Publicado em: 1984.
Assuntos:
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Tese Monograph

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