Precision measurement of wavelengths and natural line widths of 3d-2p pionic x-ray transistion in low-Z atoms /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
OCLC:46169068
1. autor: Chambrier, Gilbert de
Korporacja: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Język:English
Wydane: 1984.
Hasła przedmiotowe:
Format:

Praca dyplomowa Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

Opis Local Call Number Status
P-00019290 Dostępne