Precision measurement of wavelengths and natural line widths of 3d-2p pionic x-ray transistion in low-Z atoms /

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
OCLC:46169068
1. Verfasser: Chambrier, Gilbert de
Körperschaft: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Sprache:English
Veröffentlicht: 1984.
Schlagworte:
Format:

Abschlussarbeit Monograph

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