Magneto-optical charcacterization of deep-level defects in SiC and GaN /
Đã lưu trong:
| OCLC: | 49933572 |
|---|---|
| Tác giả chính: | |
| Tác giả của công ty: | |
| Ngôn ngữ: | English |
| Được phát hành: |
2002.
|
| Những chủ đề: | |
| Định dạng: | Luận văn Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |