Magneto-optical charcacterization of deep-level defects in SiC and GaN /

Sábháilte in:
Sonraí bibleagrafaíochta
OCLC:49933572
Príomhchruthaitheoir: Wagner, Matthias
Údar corparáideach: Universitetet i Linköping
Teanga:English
Foilsithe / Cruthaithe: 2002.
Ábhair:
Formáid:

Tráchtas Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

Cur síos Local Call Number Stádas
P-00018967 Ar fáil