Magneto-optical charcacterization of deep-level defects in SiC and GaN /
Αποθηκεύτηκε σε:
| OCLC: | 49933572 |
|---|---|
| Κύριος συγγραφέας: | |
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
2002.
|
| Θέματα: | |
| Μορφή: | Thesis Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |