Magneto-optical charcacterization of deep-level defects in SiC and GaN /

保存先:
書誌詳細
OCLC:49933572
第一著者: Wagner, Matthias
団体著者: Universitetet i Linköping
言語:English
出版事項: 2002.
主題:
フォーマット:

学位論文 Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

LEADER 01178nam a22003257a 4500
001 in00005628404
003 OCoLC
005 20020605151614.0
008 020605s2002 sw 000 0 eng d
035 |a (OCoLC)49933572 
040 |a CRL  |c CRL 
049 |a CRLL 
099 |a P-00018967 
100 1 |a Wagner, Matthias. 
245 1 0 |a Magneto-optical charcacterization of deep-level defects in SiC and GaN /  |c Matthias Wagner. 
260 |c 2002. 
300 |a v.1 (various paging) 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent. 
337 |a unmediated  |b n  |2 rdamedia. 
338 |a volume  |b nc  |2 rdacarrier. 
502 |b doctoral  |c Linköpings Universitet  |d 2002. 
653 |a semiconductors SiC and GaN. 
653 |a magneto-optical characters. 
653 |a physics. 
710 2 |a Universitetet i Linköping. 
752 |a Sweden. 
907 |a .b15678313  |b 03-28-22  |c 06-05-02 
998 |a diss  |b 06-05-02  |c m  |d -  |e -  |f eng  |g sw   |h 0  |i 1 
999 f f |i ccedd585-c093-5ad4-a03f-9b1d81162ca6  |s e4f72cc4-1695-52b6-affa-30ebe471a90f  |t 0