Magneto-optical charcacterization of deep-level defects in SiC and GaN /
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| OCLC: | 49933572 |
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| Autor principal: | |
| Autor Corporativo: | |
| Idioma: | English |
| Publicado em: |
2002.
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| Assuntos: | |
| Formato: | Tese Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| Descrição Física: | v.1 (various paging) |
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| Local de Publicação: | Sweden. |