Secure testing of VLSI cryptographic equipment /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
OCLC:56654467
Hlavní autor: Bonnenberg, Heinz, 1960-
Korporativní autor: Eidgenössische Technische Hochschule
Jazyk:English
Vydáno: 1993.
Médium:

Diplomová práce Monograph Microform

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

Popis Local Call Number Stav
P-90017658 Dostupné