Secure testing of VLSI cryptographic equipment /

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
OCLC:56654467
প্রধান লেখক: Bonnenberg, Heinz, 1960-
সংস্থা লেখক: Eidgenössische Technische Hochschule
ভাষা:English
প্রকাশিত: 1993.
বিন্যাস:

গবেষণাপত্র Monograph Microform

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

বিবরন Local Call Number বর্তমান অবস্থা
P-90017658 লভ্য