Secure testing of VLSI cryptographic equipment /

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
OCLC:56654467
Autor principal: Bonnenberg, Heinz, 1960-
Autor corporatiu: Eidgenössische Technische Hochschule
Idioma:English
Publicat: 1993.
Format:

Thesis Monograph Microform

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

Descripció Local Call Number Estat
P-90017658 Disponible