Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP mittels Transmissionselektronenmikroskopie /
שמור ב:
| OCLC: | 51538024 |
|---|---|
| מחבר ראשי: | |
| מחבר תאגידי: | |
| שפה: | German |
| יצא לאור: |
Germany :
Universität Kiel,
2002.
|
| פורמט: | Thesis Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |