Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP mittels Transmissionselektronenmikroskopie /
Enregistré dans:
| OCLC: | 51538024 |
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| Auteur principal: | |
| Collectivité auteur: | |
| Langue: | German |
| Publié: |
Germany :
Universität Kiel,
2002.
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