Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP mittels Transmissionselektronenmikroskopie /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
OCLC:51538024
1. autor: Jäger, Christian
Korporacja: Universität Kiel
Język:German
Wydane: Germany : Universität Kiel, 2002.
Format:

Praca dyplomowa Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

Opis Local Call Number Status
P-60006916 Dostępne