Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP mittels Transmissionselektronenmikroskopie /
Bewaard in:
| OCLC: | 51538024 |
|---|---|
| Hoofdauteur: | |
| Coauteur: | |
| Taal: | German |
| Gepubliceerd in: |
Germany :
Universität Kiel,
2002.
|
| Formaat: | Thesis Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |