Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP mittels Transmissionselektronenmikroskopie /
Сохранить в:
| OCLC: | 51538024 |
|---|---|
| Главный автор: | |
| Соавтор: | |
| Язык: | German |
| Опубликовано: |
Germany :
Universität Kiel,
2002.
|
| Формат: | Thesis Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| Объем: | 1 v. (unpaged) |
|---|---|
| Поместить публикацию: | Germany. |