The electrical activity of defects created in silicon single crystals during ion implantation /
محفوظ في:
OCLC: | 3928247 |
---|---|
المؤلف الرئيسي: | |
مؤلف مشترك: | |
اللغة: | English |
منشور في: |
Göteborg,
1973.
|
سلاسل: | Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola.
|
الموضوعات: | |
التنسيق: | أطروحة Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
وصف المادة: | Photocopy. 1974. -- 30 cm. |
---|---|
وصف مادي: | [78] leaves : ill. |
بيبلوغرافيا: | Includes bibliographical references. |
مكان النشر: | Sweden. |