Ellipsometrische Untersuchungen der optischen Konstanten und elektronischen Interbandübergänge in Halbleitern : Temperatur-, Legierungs- und Dotierungseffekte
保存先:
| OCLC: | 51091379 |
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| 第一著者: | |
| 団体著者: | |
| 言語: | German |
| 出版事項: |
Germany :
Universität Stuttgart,
1984.
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| フォーマット: | 学位論文 Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |