Ellipsometrische Untersuchungen der optischen Konstanten und elektronischen Interbandübergänge in Halbleitern : Temperatur-, Legierungs- und Dotierungseffekte
Enregistré dans:
| OCLC: | 51091379 |
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| Auteur principal: | |
| Collectivité auteur: | |
| Langue: | German |
| Publié: |
Germany :
Universität Stuttgart,
1984.
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