Application of optical perturbation spectroscopy for studies of complex defects and excitons in semiconductors /
Đã lưu trong:
| OCLC: | 32332775 |
|---|---|
| Tác giả chính: | |
| Tác giả của công ty: | |
| Ngôn ngữ: | English |
| Được phát hành: |
Linköping, Sweden :
Dept. of Physics and Measurement Technology, Linköping University,
1988.
|
| Loạt: | Linköping studies in science and technology. Dissertations ;
no. 191, |
| Những chủ đề: | |
| Định dạng: | Luận văn Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |