Application of optical perturbation spectroscopy for studies of complex defects and excitons in semiconductors /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
OCLC:32332775
Tác giả chính: Zhao, Q. X. (Qing Xiang)
Tác giả của công ty: Universitetet i Linköping. Dept. of Physics and Measurement
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Linköping, Sweden : Dept. of Physics and Measurement Technology, Linköping University, 1988.
Loạt:Linköping studies in science and technology. Dissertations ; no. 191,
Những chủ đề:
Semiconductors.
Exciton theory.
Định dạng:

Luận văn Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Miêu tả
Mô tả vật lý:164 p. : ill. ; 24 cm.
Thư mục:Includes bibliographical references.
số ISBN:9178703719
số ISSN:0345-7524.
Nơi xuất bản:Sweden.

Những quyển sách tương tự