Application of optical perturbation spectroscopy for studies of complex defects and excitons in semiconductors /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
OCLC:32332775
מחבר ראשי: Zhao, Q. X. (Qing Xiang)
מחבר תאגידי: Universitetet i Linköping. Dept. of Physics and Measurement
שפה:English
יצא לאור: Linköping, Sweden : Dept. of Physics and Measurement Technology, Linköping University, 1988.
סדרה:Linköping studies in science and technology. Dissertations ; no. 191,
נושאים:
Semiconductors.
Exciton theory.
פורמט:

Thesis Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

תיאור
תיאור פיזי:164 p. : ill. ; 24 cm.
ביבליוגרפיה:Includes bibliographical references.
ISBN:9178703719
ISSN:0345-7524.
Place of Publication:Sweden.

פריטים דומים