Application of optical perturbation spectroscopy for studies of complex defects and excitons in semiconductors /

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
OCLC:32332775
Päätekijä: Zhao, Q. X. (Qing Xiang)
Yhteisötekijä: Universitetet i Linköping. Dept. of Physics and Measurement
Kieli:English
Julkaistu: Linköping, Sweden : Dept. of Physics and Measurement Technology, Linköping University, 1988.
Sarja:Linköping studies in science and technology. Dissertations ; no. 191,
Aiheet:
Semiconductors.
Exciton theory.
Aineistotyyppi:

Opinnäyte Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Kuvaus
Ulkoasu:164 p. : ill. ; 24 cm.
Bibliografia:Includes bibliographical references.
ISBN:9178703719
ISSN:0345-7524.
Julkaisupaikka:Sweden.

Samankaltaisia teoksia