Application of optical perturbation spectroscopy for studies of complex defects and excitons in semiconductors /
Αποθηκεύτηκε σε:
| OCLC: | 32332775 |
|---|---|
| Κύριος συγγραφέας: | |
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Linköping, Sweden :
Dept. of Physics and Measurement Technology, Linköping University,
1988.
|
| Σειρά: | Linköping studies in science and technology. Dissertations ;
no. 191, |
| Θέματα: | |
| Μορφή: | Thesis Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| Φυσική περιγραφή: | 164 p. : ill. ; 24 cm. |
|---|---|
| Βιβλιογραφία: | Includes bibliographical references. |
| ISBN: | 9178703719 |
| ISSN: | 0345-7524. |
| Τόπος έκδοσης: | Sweden. |