Application of optical perturbation spectroscopy for studies of complex defects and excitons in semiconductors /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
OCLC:32332775
المؤلف الرئيسي: Zhao, Q. X. (Qing Xiang)
مؤلف مشترك: Universitetet i Linköping. Dept. of Physics and Measurement
اللغة:English
منشور في: Linköping, Sweden : Dept. of Physics and Measurement Technology, Linköping University, 1988.
سلاسل:Linköping studies in science and technology. Dissertations ; no. 191,
الموضوعات:
Semiconductors.
Exciton theory.
التنسيق:

أطروحة Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

الوصف
وصف مادي:164 p. : ill. ; 24 cm.
بيبلوغرافيا:Includes bibliographical references.
ردمك:9178703719
تدمد:0345-7524.
مكان النشر:Sweden.

مواد مشابهة