Theoretische und praktische Untersuchung über das Rauschverhalten von Feldeffekt-Transistoren im Pinchoff-Gebiet /

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Bibliographic Details
OCLC:64314903
Main Author: Kässer, Rudolf
Corporate Author: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Language:German
Published: Zürich : Juris + Verlag, 1973.
Format:

Thesis Monograph

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