Untersuchungen der Tracerdiffusion von Kupfer in Silberbromid, Kupfer(I)-bromid und Lithiumbromid im Vergleich mit Leitfähigkeits- und Kernresonanzmessungen /

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
OCLC:46090973
1. Verfasser: Schäfgen, Heinz-Peter
Körperschaft: Ruhr-Universität Bochum
Sprache:German
Veröffentlicht: Germany : Ruhr-Universität Bochum, 1982.
Format:

Abschlussarbeit Monograph

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