Multimode scanning probe microscopy in characterizing precision optical thin films and multilayers /
Đã lưu trong:
| OCLC: | 56413564 |
|---|---|
| Tác giả của công ty: | |
| Tác giả khác: | |
| Ngôn ngữ: | English |
| Được phát hành: |
Mumbai :
Bhabha Atomic Research Centre,
2001.
|
| Loạt: | BARC external ;
BARC/2001/E/032. |
| Những chủ đề: | |
| Định dạng: | Tài liệu chính phủ Monograph Microform Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |