Multimode scanning probe microscopy in characterizing precision optical thin films and multilayers /
Zapisane w:
| OCLC: | 56413564 |
|---|---|
| Korporacja: | |
| Kolejni autorzy: | |
| Język: | English |
| Wydane: |
Mumbai :
Bhabha Atomic Research Centre,
2001.
|
| Seria: | BARC external ;
BARC/2001/E/032. |
| Hasła przedmiotowe: | |
| Format: | Dokument rządowy Monograph Microform Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |