Multimode scanning probe microscopy in characterizing precision optical thin films and multilayers /
שמור ב:
| OCLC: | 56413564 |
|---|---|
| מחבר תאגידי: | |
| מחברים אחרים: | |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Mumbai :
Bhabha Atomic Research Centre,
2001.
|
| סדרה: | BARC external ;
BARC/2001/E/032. |
| נושאים: | |
| פורמט: | Government Document Monograph Microform Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |