Multimode scanning probe microscopy in characterizing precision optical thin films and multilayers /

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
OCLC:56413564
Collectivité auteur: Bhabha Atomic Research Centre
Autres auteurs: Sahoo, N. K.
Langue:English
Publié: Mumbai : Bhabha Atomic Research Centre, 2001.
Collection:BARC external ; BARC/2001/E/032.
Sujets:
Format:

Publication officielle Monograph Microform

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

Description Local Call Number Statut
FICHE Disponible