Multimode scanning probe microscopy in characterizing precision optical thin films and multilayers /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
OCLC:56413564
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: Bhabha Atomic Research Centre
Άλλοι συγγραφείς: Sahoo, N. K.
Γλώσσα:English
Έκδοση: Mumbai : Bhabha Atomic Research Centre, 2001.
Σειρά:BARC external ; BARC/2001/E/032.
Θέματα:
Μορφή:

Κυβερνητικό Έγγραφο Monograph Microform

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.