Multimode scanning probe microscopy in characterizing precision optical thin films and multilayers /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
OCLC:56413564
Korporativní autor: Bhabha Atomic Research Centre
Další autoři: Sahoo, N. K.
Jazyk:English
Vydáno: Mumbai : Bhabha Atomic Research Centre, 2001.
Edice:BARC external ; BARC/2001/E/032.
Témata:
Médium:

Vládní dokument Monograph Microform

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

Popis Local Call Number Stav
FICHE Dostupné