Multimode scanning probe microscopy in characterizing precision optical thin films and multilayers /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
OCLC:56413564
مؤلف مشترك: Bhabha Atomic Research Centre
مؤلفون آخرون: Sahoo, N. K.
اللغة:English
منشور في: Mumbai : Bhabha Atomic Research Centre, 2001.
سلاسل:BARC external ; BARC/2001/E/032.
الموضوعات:
التنسيق:

وثيقة رسمية Monograph Microform

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

الوصف Local Call Number الحالة
FICHE متاح