Multimode scanning probe microscopy in characterizing precision optical thin films and multilayers /

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
OCLC:56413564
Körperschaft: Bhabha Atomic Research Centre
Weitere Verfasser: Sahoo, N. K.
Sprache:English
Veröffentlicht: Mumbai : Bhabha Atomic Research Centre, 2001.
Schriftenreihe:BARC external ; BARC/2001/E/032.
Schlagworte:
Format:

Regierungsdokument Monograph Microform

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