Multimode scanning probe microscopy in characterizing precision optical thin films and multilayers /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
OCLC:56413564
Tác giả của công ty: Bhabha Atomic Research Centre
Tác giả khác: Sahoo, N. K.
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Mumbai : Bhabha Atomic Research Centre, 2001.
Loạt:BARC external ; BARC/2001/E/032.
Những chủ đề:
Thin films > Optical properties.
Thin films, Multilayered.
Định dạng:

Tài liệu chính phủ Monograph Microform

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Miêu tả
Mô tả sách:At head of title: Government of India, Atomic Energy Commission.
Mô tả vật lý:45 p. : ill. ; 29 cm.
Thư mục:Includes bibliographical references (p. 45)

Những quyển sách tương tự