Multimode scanning probe microscopy in characterizing precision optical thin films and multilayers /
Guardat en:
| OCLC: | 56413564 |
|---|---|
| Autor corporatiu: | |
| Altres autors: | |
| Idioma: | English |
| Publicat: |
Mumbai :
Bhabha Atomic Research Centre,
2001.
|
| Col·lecció: | BARC external ;
BARC/2001/E/032. |
| Matèries: | |
| Format: | Document de govern Monograph Microform Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| Descripció de l’ítem: | At head of title: Government of India, Atomic Energy Commission. |
|---|---|
| Descripció física: | 45 p. : ill. ; 29 cm. |
| Bibliografia: | Includes bibliographical references (p. 45) |