Multimode scanning probe microscopy in characterizing precision optical thin films and multilayers /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
OCLC:56413564
مؤلف مشترك: Bhabha Atomic Research Centre
مؤلفون آخرون: Sahoo, N. K.
اللغة:English
منشور في: Mumbai : Bhabha Atomic Research Centre, 2001.
سلاسل:BARC external ; BARC/2001/E/032.
الموضوعات:
Thin films > Optical properties.
Thin films, Multilayered.
التنسيق:

وثيقة رسمية Monograph Microform

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

الوصف
وصف المادة:At head of title: Government of India, Atomic Energy Commission.
وصف مادي:45 p. : ill. ; 29 cm.
بيبلوغرافيا:Includes bibliographical references (p. 45)

مواد مشابهة