Bhabha Atomic Research Centre & Sahoo, N. K. (2001). Multimode scanning probe microscopy in characterizing precision optical thin films and multilayers. Bhabha Atomic Research Centre.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Bhabha Atomic Research Centre و N. K. Sahoo. Multimode Scanning Probe Microscopy in Characterizing Precision Optical Thin Films and Multilayers. Mumbai: Bhabha Atomic Research Centre, 2001.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Bhabha Atomic Research Centre و N. K. Sahoo. Multimode Scanning Probe Microscopy in Characterizing Precision Optical Thin Films and Multilayers. Bhabha Atomic Research Centre, 2001.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.