Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /
Bewaard in:
| OCLC: | 18379314 |
|---|---|
| Hoofdauteur: | |
| Taal: | Polish |
| Gepubliceerd in: |
Warszawa :
Wydawn. Politechniki Warszawskiej,
1980.
|
| Reeks: | Prace naukowe. Chemia ;
z. 22. |
| Onderwerpen: | |
| Formaat: | Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |