Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /
Сохранить в:
| OCLC: | 18379314 |
|---|---|
| Главный автор: | |
| Язык: | Polish |
| Опубликовано: |
Warszawa :
Wydawn. Politechniki Warszawskiej,
1980.
|
| Серии: | Prace naukowe. Chemia ;
z. 22. |
| Предметы: | |
| Формат: | Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |