Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
OCLC:18379314
מחבר ראשי: Brudzewski, Kazimierz
שפה:Polish
יצא לאור: Warszawa : Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
סדרה:Prace naukowe. Chemia ; z. 22.
נושאים:
Thin films > Electric properties.
Ellipsometry.
פורמט:

Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

תיאור
תאור פריט:Caption title.
Summary in English and Russian.
תיאור פיזי:83 p. : ill. ; 24 cm.
ביבליוגרפיה:Bibliography: p. 71-73.
ISSN:0137-2300 ;

פריטים דומים